Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов (Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М.) 1986 год - Скачать книги СССР
Книги Советского Времени скачать бесплатно
Описание: Данная научная монография представляет комплексное изложение современных методов рентгеноструктурной диагностики для исследования тончайших приповерхностных слоев высокосовершенных монокристаллов. Работа адресована специалистам в области физики твердого тела, материаловедения и микроэлектроники. Авторы систематически рассматривают теоретические основы дифракции рентгеновских лучей и детально описывают экспериментальные методики, включая трехкристальную дифрактометрию и метод стоячих волн. Особую ценность представляют разделы, посвященные анализу полупроводниковых структур, что делает издание актуальным для современного развития наноэлектроники и создания новых функциональных материалов.
© «Наука»: Главная редакция физико-математической литературы Москва 1986
Авторство: Александр Михайлович Афанасьев, Петр Анатольевич Александров, Рафик Мамедович Имамов
Формат: PDF Размер файла: 2.32 MB
СОДЕРЖАНИЕ
• Теоретические основы дифракции рентгеновского излучения в высокосовершенных кристаллических структурах с описанием физических механизмов взаимодействия
• Экспериментальные методы трехкристальной рентгеновской дифрактометрии для прецизионного анализа структурных параметров
• Особенности рентгеновской дифракции в режиме полного внешнего отражения при исследовании поверхностных слоев
• Применение скользящей геометрии Брэгга-Лауэ для изучения тонких приповерхностных областей монокристаллов
• Метод стоячих рентгеновских волн как инструмент локализации атомов в кристаллической решетке
• Практические аспекты структурной диагностики полупроводниковых материалов и перспективы развития методов
СКАЧАТЬ КНИГУ
Ссылки на скачивание:
ТЕЛЕГРАМ ВКОНТАКТЕ ЯНДЕКС ДИСК
Современные возможности рентгеноструктурной диагностики
Исследование приповерхностных слоев монокристаллов представляет одну из наиболее сложных задач современного материаловедения. Рентгеновские методы анализа открывают уникальные возможности для изучения структурных особенностей тончайших поверхностных областей кристаллов с атомарным разрешением.
Теоретические основы метода
Физика дифракции рентгеновских лучей в совершенных кристаллах базируется на когерентном рассеянии излучения упорядоченной атомной структурой. Особенности взаимодействия рентгеновского излучения с кристаллической решеткой определяют возможности точного определения межплоскостных расстояний и ориентации кристаллографических плоскостей.
Экспериментальные методики
Трехкристальная рентгеновская дифрактометрия обеспечивает высочайшую точность измерений структурных параметров. Метод стоячих рентгеновских волн позволяет локализовать положение атомов в кристаллической решетке с беспрецедентной точностью. Скользящая геометрия Брэгга-Лауэ открывает возможности анализа тонких поверхностных слоев.
Практические применения
Полупроводниковые кристаллы, составляющие основу современной микроэлектроники, требуют прецизионного контроля структурных параметров. Рентгеноструктурная диагностика обеспечивает необходимую точность для создания высококачественных электронных компонентов и развития нанотехнологий.
Физика твердого тела, Кристаллография, Автор - Афанасьев А.М., Автор - Александров П.А., Автор - Имамов Р.М.
